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  • BladeCam2-HR-UV CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 190-1150nm

    BladeCam2-HR-UV CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 190-1150nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺(tái)測(cè)量 M²

    更新時(shí)間：2024-12-09
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  • BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1150nm

    BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1150nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺(tái)測(cè)量 M²

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  • BladeCam2-XHR CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1150nm

    BladeCam2-XHR CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1150nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺(tái)測(cè)量 M²

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  • Atik VS系列 CCD高分辨率長(zhǎng)曝光工業(yè)相機(jī) (1460 x 1932)

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  • FS70L4 用于半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡（顯微OCT掃頻測(cè)振）

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